離子減薄儀是一種材料樣品制備儀器，主要用于將材料樣品減薄到適合透射電子顯微鏡（TEM）觀察的厚度，也常用于試樣表面損傷層、非晶層的去除和清潔。
　　離子減薄儀通常由顯微鏡、CCD攝像頭/數(shù)碼相機(jī)、真空泵、離子槍、樣品倉等組成，工作原理是利用高能離子束（多為氬Ar離子束）轟擊材料表面，當(dāng)轟擊傳遞能量超過材料表面原子或分子間的鍵合力時(shí)，材料表面原子或分子會(huì)被濺射出來，從而實(shí)現(xiàn)減薄或拋光。
　　離子減薄法是TEM樣品制作的常見減薄技術(shù)，與電解雙噴減薄法（電化學(xué)腐蝕法）相比，其普適性更廣�；�于離子減薄法的離子減薄儀可用于半導(dǎo)體、金屬、合金、陶瓷、薄膜、涂鍍層、顆粒、地質(zhì)、多相等多種材料的減薄，具有操作便捷、制樣速度較快、制樣質(zhì)量高等特點(diǎn)。
　　離子減薄儀是透射電子顯微鏡（TEM）剛需配套儀器，近年來，隨著我國(guó)科研水平提升、實(shí)驗(yàn)室建設(shè)速度加快，TEM應(yīng)用日益廣泛，進(jìn)而帶動(dòng)離子減薄儀市場(chǎng)需求釋放。同時(shí)在國(guó)家宏觀政策支持下，大規(guī)模設(shè)備更新工作持續(xù)推進(jìn)，離子減薄儀市場(chǎng)將迎來一波確切且持續(xù)性的發(fā)展。
　　我國(guó)離子減薄儀研制起步晚于歐美國(guó)家，早期離子減薄儀市場(chǎng)被國(guó)外品牌高度壟斷，我國(guó)需求長(zhǎng)期依賴進(jìn)口。在國(guó)際市場(chǎng)上，離子減薄儀品牌主要包括美國(guó)FISCHIONE公司、美國(guó)GATAN公司（被AMETEK收購）、德國(guó)徠卡顯微系統(tǒng)、日本電子（JEOL）、日本日立、匈牙利Technoorg Linda等。
　　離子減薄儀自主化發(fā)展對(duì)國(guó)家科研水平提升具有重要意義，上世紀(jì)八十年代，我國(guó)也展開了離子減薄儀的研制及應(yīng)用研究，其中冶金部鋼鐵研究總院研制的GL-69型離子減薄儀于1982年通過部級(jí)技術(shù)鑒定。北京艾博智業(yè)離子技術(shù)有限公司在離子減薄儀領(lǐng)域已有二十多年開發(fā)和研制歷史，離子減薄儀產(chǎn)品包括AL系列、GL系列等。
   離子減薄儀主要用于材料樣品減薄，是TEM剛需配套儀器，隨著大規(guī)模設(shè)備更新工作推進(jìn)、材料科學(xué)研究深入，離子減薄儀市場(chǎng)空間將不斷擴(kuò)大。我國(guó)已實(shí)現(xiàn)離子減薄儀國(guó)產(chǎn)化生產(chǎn)，但目前國(guó)外企業(yè)仍在我國(guó)市場(chǎng)上占據(jù)著重要地位，尤其是高端領(lǐng)域，離子減薄儀尚有一定國(guó)產(chǎn)替代空間。